【Windows】Avantage 6.9安装版 – XPS数据分析及处理软件

软件介绍

Avantage是一款XPS(X射线光电子能谱)数据分析及处理软件，拥有数据采集、定量分析、元素鉴别、分峰拟合等功能，并且可以将数据导出成各种格式（如：Excel、Word、图片等），应用领域主要包括表面分析、‌专业研究实验室、‌多用户环境以及现代XPS仪器的关键组成部分。Avantage在功能与用户体验上均实现了全面升级，是材料表面分析领域不可或缺的专业工具。核心功能方面，Avantage支持全扫谱图的自动识峰和高分辨窄扫谱图的手动识峰，具备一键式荷电校准、分峰拟合(单峰拟合、双峰拟合及非线性最小二乘法拟合)、背景扣除、元素识别等强大功能，可高效完成从数据采集到结果报告的完整工作流。

Avantage 6.9.0 是赛默飞世尔科技推出的XPS数据分析及处理软件，聚焦数据处理精度、功能拓展与操作效率升级，适配材料、半导体、催化等领域表面分析需求。

主要功能

1.一体化工作流程‌：集成仪器控制、数据采集、数据处理与报告编制于一体。
2.自动识谱与智能拟合:
    全谱自动识别元素；
    高分辨窄谱手动/自动峰识别；
    支持单峰、双峰及非线性最小二乘法（NLLSF）分峰拟合。
3.荷电校准‌：提供一键式C1s校准（通常设为284.8 eV），简化谱线修正。
4.深度剖析与角分辨分析‌：支持MAGCIS™离子源溅射深度剖析和ARXPS数据处理，可实时显示深度剖面并计算层厚。
5.图像分析‌：可从XPS成像数据中提取元素/化学态分布图，进行主成分分析（PCA）和相分析。
6.报告生成‌：支持导出为Excel、Word、图片等多种格式，并可自定义模板。
7.数据库集成‌：内置Knowledge Reader，提供参考谱图与化学态建议，辅助谱峰解析。

版本特点

该版本优化分峰拟合算法，提升谱图解析精准度，新增智能基线校正、荷电校准与降噪工具，适配复杂样品谱图；完善元素定量、深度剖析、角分辨分析等功能，增强化学态与元素分布解析能力。界面与工作流优化，支持批量处理、自定义报告，兼容全系列 XPS 仪器，实现采集 – 分析 – 输出一体化，提升科研与检测效率。

截图预览